XXVII-я Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ - 2018) и 5-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов"
26.08.2018 - 30.08.2018
Россия, Черноголовка
Организаторы:
НАУЧНЫЙ СОВЕТ РАН ПО ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ
ИНСТИТУТ ПРОБЛЕМ ТЕХНОЛОГИИ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ И ОСОБОЧИСТЫХ МАТЕРИАЛОВ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК (ИПТМ РАН)
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ИНСТИТУТ КРИСТАЛЛОГРАФИИ им. А.В. Шубникова РАН (ИК РАН),
Направления:
1.Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Hовые приборы, элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений.
2.Крио-ЭМ и применение электронной, конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине.
3.Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в исследовании новых материалов.
4.Растровая электронная и ионная микроскопия. In-situ исследования в РЭМ.
5.Методы электронной микроскопии и микроанализа в исследовании предметов культурного наследия.
6.Сканирующая зондовая микроскопия.
7.Исследование сверхбыстрых процессов, фемтосекундная микроскопия, динамическая электронная кристаллография.
8.Электронная и ионная литография. Микроскопия в современных технологиях.
9.Электронная микроскопия в химии, геологии и материаловедении
10.Другие применения электронной микроскопии и комплементарных методов